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氧化铝顶板(Al₂O₃ Top Plate)介绍及其在半导体设备中的应用

文章出处:http://www.jundro.cn/industry/938.html人气:2时间:2025-11-17

一、什么是氧化铝顶板?

氧化铝顶板通常由高纯度 99.5%–99.99% 氧化铝陶瓷制成,是半导体设备中用于等离子体反应腔体上方的关键结构件。其主要功能是隔离、支撑与传递热量,同时抵抗等离子体对腔体的侵蚀。

典型特性包括:

  • 高硬度、耐磨性强:在高能离子轰击环境中仍保持结构稳定。

  • 优异的耐等离子体腐蚀能力:对氟系、氯系等等离子体具备良好抗蚀性。

  • 高介电强度与绝缘性:适用于 RF 射频能量耦合区域。

  • 尺寸稳定性高:在 200–500°C 工艺温度下保持极低变形量。

  • 加工精度可达:±0.01–0.02mm(视结构而定)。

二、氧化铝顶板在半导体中的具体应用位置

氧化铝顶板主要用于以下半导体制程设备中:

1. 等离子体刻蚀机(PE、ICP、RIE)——腔体顶部(Top Plate / Upper Electrode)

位置:
安装在反应腔上方,位于射频电极(Upper RF Electrode)或天线下方。
 部分设备中作为上电极隔离材料、介质窗或腔体顶盖。

作用:

  • 隔离腔体高压与等离子体区域

  • 作为 RF 电磁场传递介质

  • 提供均匀电场分布,影响等离子体均匀性

  • 抵抗等离子体腐蚀,保证腔体长期稳定运行

2. PECVD / HDP-CVD 设备的上盖板(Top Cover / Top Insulator)

位置:反应腔上方,气体喷淋头(showerhead)附近。

作用:

  • 提供绝缘保护,避免气体分布盘与腔体短路

  • 保持沉积环境的温度一致性

  • 防止上方热源的热量对腔体造成结构变形

3. ALD(原子层沉积)腔体上部的热隔离材料

位置:腔体顶部、加热区隔离位置。

作用:

  • 作为热障材料,阻挡或控制热流路径

  • 保护金属结构免受高温侵蚀

  • 保持 ALD 腔体热场均匀性

4. 晶圆传输区域(Loadlock / Transfer Module)绝缘盖板

位置:传输机械手附近的隔离板、绝缘板。

作用:

  • 作为结构支撑件

  • 实现电气绝缘

  • 提供轻质稳定的耐磨结构件

三、为什么氧化铝适合作为顶板材料?

性能需求      氧化铝表现
耐腐蚀 良好,特别适合刻蚀腔体
介电特性 绝缘强度高,适合 RF 区域
热稳定性 <800°C 稳定,不易变形
成本 远低于氮化铝、SiC,性价比高
可加工性 支持磨削、研磨、抛光,大尺寸可控

  jundro 陶瓷在氧化铝陶瓷加工领域展现出多维度的独特优势,凭借深耕行业多年的技术沉淀与工艺创新,为全球半导体、电子封装、新能源等领域的客户提供了高精度、高可靠性、定制化的氧化铝陶瓷产品及解决方案,成为众多客户项目落地的核心助力。咨询电话:13712574098

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