相较于金属或其他材料,用于载物台的先进陶瓷具备以下无可比拟的优势:
卓越的耐腐蚀与等离子体抗性:半导体刻蚀、薄膜沉积等工艺常在强腐蚀性气体(如Cl₂、CF₄)和高能等离子体环境中进行。以高纯氧化铝(Al₂O₃) 和氧化钇(Y₂O₃) 为代表的陶瓷,具有极高的化学惰性,能抵抗等离子体侵蚀,避免产生颗粒污染,确保工艺腔体洁净度与长期稳定性。
优异的高温稳定性与低热膨胀:在快速升降温循环(如退火工艺)中,陶瓷载物台能保持尺寸稳定,不发生形变。其极低的热膨胀系数与硅晶圆接近,能减少热应力,防止晶圆翘曲或破裂。
出色的绝缘性与静电吸附能力:陶瓷是优良的电绝缘体,这是实现静电卡盘(ESC) 功能的基础。通过在陶瓷内部嵌入电极,可产生强静电场,在不使用机械夹具的情况下牢牢吸附晶圆,避免了遮挡和污染,并提升了传热效率。
良好的热导性与均匀性:氮化铝(AlN) 陶瓷具有极高的热导率(约170-200 W/mK),是理想的高功率加热盘材料。它能实现快速、均匀的晶圆温度控制,对于要求精确温控的化学气相沉积(CVD)等工艺至关重要。
高硬度与耐磨性:陶瓷表面硬度高,能承受晶圆频繁的取放操作,减少表面划伤和磨损,延长使用寿命。.jpg)
根据具体工艺的侧重点,主要选用以下两类陶瓷
| 材料类型 | 核心优势 | 典型应用领域 |
| 高纯氧化铝(Al₂O₃) | 综合性能平衡:成本相对较低,机械强度高,绝缘性好,耐等离子体侵蚀能力优良。是应用最广泛、最成熟的载物台陶瓷材料。 | 等离子体刻蚀(Etch)、离子注入(Implant)、物理气相沉积(PVD) 等腔体的静电卡盘和聚焦环。 |
| 氮化铝(AlN) | 极致导热:热导率是氧化铝的8-10倍,是实现快速、均匀加热的理想选择。绝缘性同样出色。 | 化学气相沉积(CVD)、原子层沉积(ALD)、外延(Epitaxy) 等需要精确高温控制的工艺中的加热盘。尤其适用于300mm及以上大尺寸晶圆的高产能要求。 |
刻蚀(Etching):氧化铝是刻蚀腔静电卡盘和腔体内衬的主力材料。它必须承受最剧烈的等离子体轰击和化学侵蚀,保护腔体金属基材,并维持稳定的射频(RF)传输性能。
薄膜沉积(Deposition):
CVD/ALD:主要使用氮化铝加热盘,以实现对晶圆温度(通常为300-650°C)的精密、均匀控制,保证薄膜沉积的均匀性与质量。
PVD:常用氧化铝静电卡盘,在较低温度下稳定固定晶圆,并具备一定的导热能力。
热处理(Thermal Processing):在快速热处理(RTP)和退火设备中,氮化铝因其卓越的导热和耐热冲击性能,成为制造承载晶圆的热板的优选材料。
离子注入(Implantation):在此过程中,晶圆通常不需要加热,但需稳定固定并防止电荷积累。氧化铝静电卡盘因其可靠的绝缘和吸附性能被广泛使用。
氧化铝、氮化铝为代表的特种陶瓷,凭借其耐腐蚀、耐高温、绝缘、导热及高洁净度的综合性能,构成了半导体高端装备载物台的核心材料体系。随着芯片制程不断向3nm、2nm及更先进节点迈进,对载物台陶瓷的纯度、均匀性、耐用性和功能集成度提出了更高要求,推动着这一细分材料领域持续向高性能化发展。